Si + dry SiO2 wafer 4 inch 525 um (100) SSP P-doped
Prime Si + SiO2 (dry) (100 nm) wafer 525 µm 100
| Anzahl | Stückpreis |
|---|---|
| Bis 4 |
42,00 €*
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| Bis 9 |
32,00 €*
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| Bis 24 |
26,00 €*
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| Bis 49 |
20,00 €*
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| Bis 99 |
19,00 €*
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| Bis 199 |
18,00 €*
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| Ab 200 |
17,00 €*
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Produktnummer:
WTD40525250P1314S101
Produktinformationen "Si + dry SiO2 wafer 4 inch 525 um (100) SSP P-doped"
Prime Si + dry SiO2 wafer 4 inch, thickness = 525 ± 25 µm, (100), 1-side polished, n-type (Phosphor) TTV < 10 µm, 1 - 10 Ohm cm, 100 nm SiO2
| Diameter (round): | 4 inch |
|---|---|
| Material: | Si + SiO2 (dry) (100 nm) |
| Orientation: | 100 |
| Quality: | Prime |
| Resistivity: | 1 - 10 Ohm cm |
| SiO2 thickness: | 100 - 200 nm |
| Surface: | 1-side polished |
| Thickness: | 501 - 700 µm |