CZ-Si wafer 4 inch 525 um (100) SSP P-doped
Test CZ-Si wafer 525 µm 100
| Anzahl | Stückpreis |
|---|---|
| Bis 49 |
11,00 €*
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| Bis 99 |
10,70 €*
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| Bis 299 |
10,50 €*
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| Bis 499 |
10,00 €*
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| Bis 999 |
9,50 €*
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| Bis 1999 |
9,00 €*
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| Ab 2000 |
8,80 €*
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Lagerbestand:
50
Produktnummer:
WSM40525250P1324XNN1
Produktinformationen "CZ-Si wafer 4 inch 525 um (100) SSP P-doped"
Test CZ-Si wafer 4 inch, thickness = 525 ± 25 µm, (100), 1-side polished, n-type (Phosphor), 1 - 20 Ohm cm, 1 Flat