CZ-Si wafer 2 inch 279 um (100) SSP B-doped
Test CZ-Si wafer 279 µm 100
| Anzahl | Stückpreis |
|---|---|
| Bis 49 |
6,50 €*
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| Bis 99 |
6,00 €*
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| Bis 299 |
5,50 €*
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| Bis 999 |
5,20 €*
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| Bis 1999 |
5,00 €*
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| Ab 2000 |
4,80 €*
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Produktnummer:
WSM20279250B1324SNN1
Produktinformationen "CZ-Si wafer 2 inch 279 um (100) SSP B-doped"
Test CZ-Si wafer 2 inch, thickness = 279 ± 25 µm, (100), 1-side polished, p-type (Boron), 1 - 20 Ohm cm
| Diameter (round): | 2 inch |
|---|---|
| Material: | CZ-Si |
| Orientation: | 100 |
| Quality: | Test |
| Resistivity: | 1 - 10 Ohm cm |
| Surface: | 1-side polished |
| Thickness: | 201 - 300 µm |